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- 村上 健太
- 長岡技術科学大学
書誌事項
- タイトル別名
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- Recent development of nano/micro-scale analytical techniques for nuclear materials (3)
- 原子力材料評価のための最新ナノミクロ分析技術の新展開(第3回)イオンビームを用いた照射劣化のin-situ TEM観察
- ゲンシリョク ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ サイシン ナノミクロ ブンセキ ギジュツ ノ シン テンカイ(ダイ3カイ)イオンビーム オ モチイタ ショウシャ レッカ ノ in-situ TEM カンサツ
- <i>In-situ</i> TEM observation of radiation damage using ion beam
- 第3回 イオンビームを用いた照射劣化の<i>in-situ</i> TEM観察
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説明
<p> 原子力材料の研究開発では,中性子照射の影響をあらかじめ把握することが求められる。イオン加速器と透過電子顕微鏡(TEM)を結合させた実験装置(in-situ TEM)は,この問題に取り組むためのユニークな照射場を提供してくれる。本稿では,in-situ実験が高速中性子によるカスケード損傷を理解するために果たしてきた歴史的役割を概観した後,現在取り組まれている研究課題を紹介する。また,in-situ TEMの設計・製造・実験における留意事項を踏まえ,研究用の照射場が果たすべき役割についても考察したい。</p>
収録刊行物
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- 日本原子力学会誌ATOMOΣ
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日本原子力学会誌ATOMOΣ 60 (6), 346-350, 2018
一般社団法人 日本原子力学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390002184891737728
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- NII論文ID
- 130007827689
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- NII書誌ID
- AN00188477
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- ISSN
- 24337285
- 18822606
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- NDL書誌ID
- 029099632
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可