絶対測定に基づくオージェおよび二次電子スペクトルのデータベース

後藤 敬典, 中原 仁, 本間 芳和

doi:10.1380/vss.64.476

書誌事項

タイトル別名

Database for Auger and Secondary Electron Spectra Based on Absolute Measurements
ゼッタイソクテイニモトズクオージェオヨビニジデンシスペクトルノデータベース

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説明

<p>The Division of Microbeam Analysis, the Japan Society of Vacuum and Surface Science, publishes the Database for Auger and Secondary Electron Spectra online (https://www.jvss.jp/division/mba/sedb/). These spectral data were measured with an SI traceable cylindrical mirror analyzer developed by Keisuke Goto (absolute measurement system). The database body stores measurement data and spectra of 56 materials and 47 materials as an appendix. This paper reports the concept and characteristics of the absolute measurement system and introduces the electron spectra database.</p>

収録刊行物

表面と真空

表面と真空 64 (10), 476-481, 2021-10-10

公益社団法人日本表面真空学会

キーワード

詳細情報詳細情報について

CRID: 1390008212405040384

NII論文ID: 130008102852

NII書誌ID: AA12808657

DOI: 10.1380/vss.64.476

ISSN: 24335843; 24335835

NDL書誌ID: 031775360

Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/031775360; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031775360; https://www.jstage.jst.go.jp/article/vss/64/10/64_20180786/_pdf

本文言語コード: ja

データソース種別

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