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- タイトル別名
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- Design Methodology for Smear Suppression of Column Readout Circuit in CMOS Image Sensor
- CMOS イメージセンサ ノ ヨミダシ カイロ ニ オケル スミア テイゲン シュホウ
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抄録
<p>The column readout circuit in CMOS image sensor is highly integrated analog circuit arranged for each column of pixels in general. Due to the degree of integration, crosstalk between columns is likely to occur, resulting in deterioration in image quality. However, the integration of circuit components is limited in column floor plan, so that countermeasures unique to high integration is required. In this paper, various causes of smear, which is a typical image noise, in the readout circuit and its countermeasures are discussed.</p>
収録刊行物
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- 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
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電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) 141 (12), 1296-1305, 2021-12-01
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390008764026292864
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- NII論文ID
- 130008123484
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- NII書誌ID
- AN10065950
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- ISSN
- 13488155
- 03854221
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- NDL書誌ID
- 031857050
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可