高分解能ERDAのための多チャンネル半導体検出器用スルーレート制限型ToT ASICの開発
書誌事項
- タイトル別名
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- Development of the slew rate limited ToT ASIC for multi-channel semiconductor detector in high-resolution ERDA
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 74.1 (0), 692-692, 2019
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390009454803241472
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- NII論文ID
- 130008148745
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles