Development of the slew rate limited ToT ASIC for multi-channel semiconductor detector in high-resolution ERDA

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  • 高分解能ERDAのための多チャンネル半導体検出器用スルーレート制限型ToT ASICの開発

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390009454803241472
  • NII Article ID
    130008148745
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.74.1.0_692
  • ISSN
    21890803
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles

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