レプリカ交換モンテカルロ法を用いた原子層厚グラフェンX線光電子スペクトルのベイズ分光
書誌事項
- タイトル別名
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- Bayesian spectroscopy of X-ray photoelectron spectra in monolayer and multilayer graphenes with a replica exchange Monte Carlo method
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 74.2 (0), 1122-1122, 2019
一般社団法人 日本物理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390009483105669632
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- NII論文ID
- 130008151415
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles