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【2023年10月31日掲載】CiNii Dissertations及びCiNii BooksのCiNii Researchへの統合について
新「国立国会図書館サーチ」公開によるCiNiiサービスへの影響について
Ni窒化物半導体のショットキーバリアダイオード特性評価と窒化時間依存性
DOI
森岡 璃久
松江高専
市川 和典
松江高専
赤松 浩
神戸高専
大島 多美子
佐世保高専
葉 文昌
島根大学
書誌事項
タイトル別名
Investigation of Ni nitride semiconductor Schottky barrier diode and nitride time dependence
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2020.1 (0), 1427-1427, 2020-02-28
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
15a-PB1-9
薄膜・表面
薄膜新材料
新材料・新技術・評価手法など
窒化物半導体
ワイドギャップ半導体
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390010765206278656
DOI
10.11470/jsapmeeting.2020.1.0_1427
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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