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正圧電応答顕微鏡を用いたP(VDF-TrFE)膜のドメイン構造観察
DOI
金川 いづる
阪府大工
松下 裕司
阪府大工
吉村 武
阪府大工
藤村 紀文
阪府大工
書誌事項
タイトル別名
Domain structure imaging in P(VDF-TrFE) films by direct piezoelectric response microscopy
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2019.2 (0), 1380-1380, 2019-09-04
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
21a-C309-1
薄膜・表面
強誘電体薄膜
強誘電体・高誘電率薄膜
P(VDF-TrFE)
正圧電
ドメイン構造
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390011340284165632
DOI
10.11470/jsapmeeting.2019.2.0_1380
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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