技術の二重性

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タイトル別名
  • ――CMP装置産業における計測・評価技術の意味――

抄録

<p>　本稿の目的は，技術に関連した経営学的な研究を進めるうえで，①何かを達成するための技術と，②その技術が達成したものを計測・評価するための技術，という二重性を持ったものとして技術を捉えるという視点を採用することで，より豊かな議論を展開できる可能性があることを示すことである．この目的のために，計測・評価技術の重要性に注目しながら，CMP 装置産業で観察された技術変化とそれに伴う企業の変遷について分析する．</p>

収録刊行物

  • 組織科学

    組織科学 37 (2), 62-74, 2003-12-20

    特定非営利活動法人 組織学会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390011473168012800
  • DOI
    10.11207/soshikikagaku.20220802-13
  • ISSN
    2187932X
    02869713
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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