補助治具を用いたSEM観察用準超薄連続切片の作製手法

DOI
  • 若崎 眞由美
    国立研究開発法人理化学研究所環境資源科学研究センター技術基盤部門質量分析・顕微鏡解析ユニット
  • 武田-神谷 紀子
    国立研究開発法人理化学研究所環境資源科学研究センター技術基盤部門質量分析・顕微鏡解析ユニット
  • 佐藤 繭子
    国立研究開発法人理化学研究所環境資源科学研究センター技術基盤部門質量分析・顕微鏡解析ユニット
  • 太田 啓介
    久留米大学医学部先端イメージング研究センター
  • 豊岡 公徳
    国立研究開発法人理化学研究所環境資源科学研究センター技術基盤部門質量分析・顕微鏡解析ユニット

書誌事項

タイトル別名
  • Effective Tool for Wrinkle Less Serial and Large Semi-Thin Sections

抄録

<p>準超薄連続切片は，超薄切片ではカバーしきれない大きな試料の解析に有用であるが，スライドガラス等の基板に貼り付ける時に頻繁にシワができる問題があった．我々は，伸展に必要な量の水を残したまま準超薄連続切片をナイフボートから引き上げて加熱伸展し，シワのない大量の切片群を安定して採取する方法を開発した．アレイトモグラフィー法やCLEM観察に有効な，シワのない大規模連続組織像を得ることが可能になった</p>

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 58 (3), 123-127, 2023-12-30

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390017278818269184
  • DOI
    10.11410/kenbikyo.58.3_123
  • ISSN
    24342386
    13490958
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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