電子線トモグラフィーによる格子欠陥の 3 次元可視化

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タイトル別名
  • Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography
  • デンシセン トモグラフィー ニ ヨル コウシ ケッカン ノ 3ジゲン カシカ

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抄録

X線CT(computed tomography :　コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。

収録刊行物

  • まてりあ

    まてりあ 49 (6), 274-279, 2010

    公益社団法人 日本金属学会

被引用文献 (5)*注記

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参考文献 (30)*注記

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