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- 小野田 みつ子
- 物質・材料研究機構物質研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Study of Stacking Faults Through Profile Analysis
- プロファイル カイセキ ニ ヨル セキソウ フセイ ノ ケンキュウ
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抄録
Computer simulation method of powder diffraction profile from the specimen with planer defects such as stacking faults and intergrowth is reviewed. The matrix method, introduced by Hendricks and Teller and developed to the general solution method by Kakinoki and Komura, is summarized, and transformation into the powder pattern profile is presented in outline. Probability matrices of layer sequences and calculated profiles using the matices are reported for several examples, SiC, Li-Mn-oxide, Cu3GdS3 and Bi1.83Sr1.80Ca1.78Cu3Oy.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 46 (6), 407-414, 2004
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679062570240
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- NII論文ID
- 10014095455
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD2MXpt1ynsw%3D%3D
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 7205217
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可