書誌事項
- タイトル別名
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- Coherence Measurement of Synchrotron Radiation using X-ray High-Resolution Monochromator
- Xセン コウ ブンカイノウ ブンコウキ オ モチイタ ホウシャコウ コヒーレンス ケイソク
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抄録
X-ray intensity interferometry with high-resolution monochromator was developed at the SPring-8 coherent X-ray beamlines. Transverse and longitudinal X-ray coherence properties, as well as electron beam parameters in the storage ring, were determined in high accuracy. Application to XFEL diagnostics is discussed.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 46 (5), 332-338, 2004
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679063814272
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- NII論文ID
- 10013740840
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 7138297
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可