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- 中井 泉
- 東京理科大学理学部応用化学科
書誌事項
- タイトル別名
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- Introduction to Synchrotron Radiation X-ray Analysis for Crystallographers
- コンナ コト ガ デキル ホウシャコウ 7 ブンセキ カガク ブンヤ ニ オケル ホウシャコウ ケッショウガク ビショウブ ブンセキ ビリョウ ブンセキ ノ キョクゲン ニ ムケテ
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説明
This article gives an overview of several basic synchrotron radi-ation (SR) X-ray analytical techniques useful for crystallographers for material characterization. They include X-ray fluorescence analysis, X-ray powder diffraction and in plane diffraction analyses, X-ray absorption fine structure analysis and X-ray photoelectron spectroscopy. Utilization of X-ray microbeam and total reflection optics are two key elements of the techniques. Special attention was paid to show the advantage of the introduction of SR to these techniques and to give a hint of SR experiments for those who have never used SR although they have basic knowledge of the techniques.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 47 (5), 305-315, 2005
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679064381568
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- NII論文ID
- 10018280334
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 7717704
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可