暗減衰過渡分光法におけるPoole-Frenkel効果の影響

秋田 成司, 中山 喜萬

doi:10.11370/isjepj.33.202

書誌事項

タイトル別名

Influence of Poole-Frenkel Effect on Depletion Discharge Transient Spectroscopy
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説明

暗減衰過渡分光法¹⁾に対し，Poole-Frenkel（P-F）効果の影響を考慮した理論を基に，暗減衰特性の数値計算を行い，実験結果に与える影響を予測した．また，PF効果を表面電位と試料膜厚から求めた平均電界によって補正することにより，放出準位分布を求めることが可能であることがわかった．これを基に，a-Si:H感光体の暗減衰特性を解析すると，トラップされた電子の放出過程はP－F効果に大きく影響されていることが判明した．その放出準位密度は，試行離脱周波数をν₀＝10¹²Hzと仮定すると，伝導帯端より0.8eV付近で4×10¹⁵eV^-1cm^-3で，それより深い準位ではエネルギの増加とともに大きくなり0.88eVで約2×10¹⁶eV^-1cm^-3であった．

収録刊行物

電子写真学会誌

電子写真学会誌 33 (3), 202-208, 1994

一般社団法人日本画像学会

詳細情報詳細情報について

CRID: 1390282679074252288

NII論文ID: 130004484659; 40004298227

NII書誌ID: AN00261409

DOI: 10.11370/isjepj.33.202

ISSN: 18805108; 0387916X

NDL書誌ID: 3907797

Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/3907797; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3907797

本文言語コード: ja

データソース種別

JaLC
NDLサーチ
CiNii Articles

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