表面電位顕微鏡 (KFM) とMEMSピンセットを用いたトナー帯電偏在化の研究

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タイトル別名
  • Study on Toner Charge Inclination by Kelvin Force Microscopy and Microelectromechanical-based Actuated Tweezers
  • ヒョウメン デンイ ケンビキョウ(KFM)ト MEMS ピンセット オ モチイタ トナー タイデン ヘンザイカ ノ ケンキュウ

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説明

<p>トナー表面のミクロな帯電分布は，画像形成プロセス中のトナー挙動の正確な制御のために，重要な課題である．一方で，その研究範囲は，付着力に対する理論的考察や，材料組成の寄与を調べるに留まり，電子写真プロセスのトナー帯電分布に与える影響については，十分な検討が成されていない．本稿では，表面電位顕微鏡 (KFM) によるトナー表面帯電分布計測と，MEMSピンセットによるトナー1粒子の帯電量計測およびマニピュレーション技術とを組み合わせることで，放電現象が転写残トナーの帯電分布に与える影響を調べた．具体的には，転写電流による，表面電位分布と電荷中心の変化を解析することで，転写ニップ内の放電暴露の影響による，粒子表面上で電荷の偏在化を示唆する結果が得られた．</p>

収録刊行物

  • 日本画像学会誌

    日本画像学会誌 56 (5), 489-496, 2017

    一般社団法人 日本画像学会

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