ＳＥＭ・ＴＥＭによる表面・断面観察技術　　ＳＥＭ／ＥＢＳＰによる結晶方位測定

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390282679090708864

• NII論文ID

  130000149563

• NII書誌ID

  AN1005202X

• DOI

  10.4139/sfj.54.26

• COI

  1:CAS:528:DC%2BD3sXisVGqu7s%3D

• ISSN

  18843409

  09151869

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles