X線及び中性子小角散乱による先端金属材料の微細組織解析

書誌事項

タイトル別名
  • Study on Microstructures of Advanced Metallic Materials by Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering
  • Xセン オヨビ チュウセイシ ショウカク サンラン ニ ヨル センタン キンゾク ザイリョウ ノ ビサイ ソシキ カイセキ

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説明

X線及び中性子小角散乱により,金属-非金属ナノグラニュラ軟磁性膜,析出強化型ステンレス鋼,Al-Mg-Si合金の微細組織評価を行った.小角散乱法ではこれら金属材料の各種特性長(粒径,粒子間隔など)をサブナノメートルスケールの精度で評価可能である.この平均スケールの定量評価結果を基に磁気的/機械的特性の発現機構を検討した結果について報告する.<br>

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 55 (6), 381-390, 2006

    公益社団法人 日本分析化学会

被引用文献 (5)*注記

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参考文献 (27)*注記

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