偏光光学系蛍光Ｘ線分析装置を用いるコーヒー豆の微量元素分析及び産地判別への適用

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タイトル別名
  • Determination of Trace Elements in Coffee Beans by XRF Spectrometer Equipped with Polarization Optics and Its Application to Identification of Their Production Area
  • ヘンコウ コウガクケイ ケイコウ Xセン ブンセキ ソウチ オ モチイル コーヒーマメ ノ ビリョウ ゲンソ ブンセキ オヨビ サンチ ハンベツ エ ノ テキヨウ

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抄録

実験室レベルで高感度な分析が可能な三次元偏光光学系蛍光X線分析装置を用いて，コーヒー豆の微量元素を定量し，統計解析を行った．産地判別に有用な元素を明らかにし，簡易・迅速な産地判別法として確立することを目指した．産地の指標となる6元素（Mn，Fe，Ni，Rb，Sr，Ba）を高感度に分析するために測定条件を最適化した結果，各元素において直線性のよい検量線を作成することができ，各元素の検出限界は，サブppmレベルとなった．コーヒー生豆75試料中の6元素を定量し，主成分分析を行った結果，6産地（ブラジル，コロンビア，ベトナム，インドネシア，タンザニア，グアテマラ）の生豆を特性化することができた．また，同ロットの生豆と焙煎豆の各元素濃度を比較した結果，これらの6元素について大きな差は見られなかったため，今回の産地判別手法における焙煎の影響は小さいことが分かった．本手法では，試料の前処理は10分程度，測定時間は2時間30分であり，自動連続測定が可能であることから，簡易・迅速な実用性の高い分析手法として，コーヒー豆の産地判別への応用が更に期待される．

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 59 (10), 863-871, 2010

    公益社団法人 日本分析化学会

被引用文献 (3)*注記

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参考文献 (26)*注記

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