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- 木村 忠正
- 電気通信大学
書誌事項
- タイトル別名
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- Life Distribution of Nano-Scale High Reliability LSI : A Study of the Bathtub Curve from the Physics of Failure Point of View (Physics of Failure and Reliability)
- ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布--故障物理からのバスタブ曲線の考察
- ナノスケール コウシンライセイ LSI ノ ジュミョウ ブンプ コショウ ブツリ カラ ノ バスタブ キョクセン ノ コウサツ
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説明
ナノスケール時代の最新の半導体LSIの信頼性は,従来のバスタブ曲線の考え方には必ずしも従わない.高信頼性LSIでは故障率vs時間特性をどのように孝えるべきか,故障物理の視点から,従来のバスタブ曲線の初期故障,偶発故障,摩耗故障それぞれの領域を見直し,新しい考え方を提案する.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 26 (1), 46-53, 2004
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679428706176
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- NII論文ID
- 110003994545
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 6848491
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
