-
- 伊藤 貞則
- イトケン事務所
書誌事項
- タイトル別名
-
- Ion Migration Growth Mechanism and its Evaluation Method(Dendrite and Whisker)
- イオンマイグレーションの成長メカニズムと試験方法
- イオンマイグレーション ノ セイチョウ メカニズム ト シケン ホウホウ
この論文をさがす
説明
電子機器は電極間の絶縁を保つ絶縁物の役割が回路の正常な動作を保証する.この絶縁機能を喪失させるいろいろな絶縁劣化現象がある.なかでもイオンマイグレーションは電極間を金属で繋ぐため大電流が流れることもあり火災の原因ともなる.本稿ではイオンマイグレーションの形態,イオンマイグレーションと電解腐食との関係,および生成メカニズムと試験方法について説明する.またイオンマイグレーションは物理化学的な現象なので,基本から理解していただけるように,基礎となる内容である項目,3種類の電気の流れ/電気めっき/結露/金属のイオン化/金属イオンの安定性についても紹介する.
収録刊行物
-
- 日本信頼性学会誌 信頼性
-
日本信頼性学会誌 信頼性 34 (7), 444-451, 2012
日本信頼性学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390282679429349760
-
- NII論文ID
- 110009518607
-
- NII書誌ID
- AN10540883
-
- ISSN
- 24242543
- 09192697
-
- NDL書誌ID
- 024010987
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
