Sess.6-1 二値データへの逐次的寿命試験計画(第13回信頼性シンポジウム)

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  • 二値データへの逐次的寿命試験計画
  • 2チ データ エ ノ チクジテキ ジュミョウ シケン ケイカク

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抄録

製品の信頼性を保証するうえで信頼性寿命試験は必要不可欠である。しかし信頼性寿命試験においては、試験中の個々の試料の機能遂行状態がわかる場合と、半導体の恒温槽を用いた試験や、消火器、自動車のエアバックなどのように試験中の機能逐行状態が把握できず、観測時点にのみ正常か異常かの二値データのみが観測できる場合も少なくない。よって本研究では、この類のデータに対して逐次的な観測を通して得られる寿命データからの寿命分布に関する情報が最大となる最適試験計画について考察を行う。その結果、半導体デバイスなどの故障率減少型アイテムに対しては1stageの観測のみに基づき十分な推定精度が得られることが判明した。

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