書誌事項
- タイトル別名
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- A Survey of Approaches for High Field Reliability(<Special Survey>Testing and Evaluation Technology for LSI)
- フィールド高信頼化のためのアプローチ
- フィールド コウシンライカ ノ タメ ノ アプローチ
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説明
VLSIの高機能化と高性能化,また製造プロセスの微細化とともに,性能の劣化現象が着目されている.システムに組み込まれたVLSIがフィールドで性能劣化を進行させる中で,その劣化を事前に検知し,障害発生による事故を予防することが重要な課題となりつつある.本論文ではVLSIの劣化に着目して,システムの高信頼化を実現するアプローチについて,最新の研究開発動向を解説・展望する.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 31 (7), 514-519, 2009
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679430193536
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- NII論文ID
- 110007387631
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 10463599
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
