ディペンダブルなVLSIとテスト(特集 品質の保証のための提案)

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タイトル別名
  • Dependable VLSI and Test (Special Survey Approach to LSI Quality Assurance)
  • ディペンダブルなVLSIとテスト
  • ディペンダブル ナ VLSI ト テスト

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説明

VLSIの信頼性は,設計検証,テスト,テスト容易化設計など様々なプロセスによって保証される.テストは,製造されたVLSIが正しく動作するかどうかを確かめるプロセスであり,良品と不良品の判別だけでなく,テスト結果を解析し設計・製造フローにフィードバックして歩留まり向上に役立てるなどの重要な役割を担っている.テスト容易化設計は,テストが容易になるように回路の設計を変更するプロセスであり,信頼性を保証するためには不可欠なプロセスである.本稿では,VLSIのテスト,テスト容易化設計に関して概説する.縮退故障,スキヤン設計といった代表的な故障モデル,テスト容易化設計手法を紹介するとともに,高度な信頼性を保証するための取り組みについても紹介する.

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