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- 鴨井 督
- 京都府中小企業技術センター
書誌事項
- タイトル別名
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- Auger Electron Spectroscopy of Insulators Using Graphene as Conductive Layers
- グラフェン ドウデンソウ オ モチイタ ゼツエンブツ ノ オージェ デンシ ブンコウ ブンセキ
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抄録
オージェ電子分光分析(AES)は物質の数nmの最表面組成を判定できる反面,その測定対象は導電性を持つ材料に限定される.そのため,AESによる絶縁物観察のためには極薄の金属膜コートにより,試料表面に導電性を付与する等の前処理が必要となる.本報告では導電性付与のため,1原子層状物質であるグラフェンを測定対象上に保持することで,絶縁材料の微小領域におけるAES分析を実現した.
収録刊行物
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- Journal of Surface Analysis
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Journal of Surface Analysis 23 (3), 160-166, 2017
一般社団法人 表面分析研究会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679449863040
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- NII論文ID
- 130006145513
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- NII書誌ID
- AA11448771
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- ISSN
- 13478400
- 13411756
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- NDL書誌ID
- 028135715
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可