書誌事項
- タイトル別名
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- Evaluation and Analysis of Substrate Noise in a Microprocessor
- マイクロプロセッサにおける基板ノイズの評価と解析
- マイクロプロセッサ ニ オケル キバン ノイズ ノ ヒョウカ ト カイセキ
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説明
SoCをターゲットとした電源・基板雑音の統合解析手法について、90nm CMOS技術によるマイクロプロセッサ・チップに適用し、オンチップ雑音モニタによる測定データと比較検証した。テストチップには、プロセッサコア内部に12箇所の電源雑音・グラウンド雑音観測点を設け、さらにプロセッサコアの周辺に120箇所の観測点を有する基板雑音評価エリアを配置し、電源・基板雑音の時間波形及び空間分布の実験評価を実現した。電源雑音および基板雑音の定量的なシミュレーションにおいて、デジタル回路における雑音発生のモデリングに加え、オンチップの雑音伝搬経路であるシリコン基板、およびオフチップのパッケージやボードを含む電源供給系の寄生インピーダンスを考慮することが重要であることを実証した。
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 33.39 (0), 11-14, 2009
一般社団法人 映像情報メディア学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679504053888
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- NII論文ID
- 110007484183
- 10031113268
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 10445537
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可