PWBにおけるIVHの熱疲労寿命に及ぼすFR-4の積層構造の不均質性の影響（第1報，冷熱サイクル試験と有限要素法解析を用いた寿命の変動要因の検討）
書誌事項
- タイトル別名
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- Effect of Heterogeneity of Laminated Structure in FR-4 on Thermal Fatigue Life of Interstitial Via Hole in Printed Wiring Board (First Report, Investigation of Variation Factors of Life Using Thermal Cycling Test and Finite Element Analysis)
- PWB ニ オケル IVH ノ ネツ ヒロウ ジュミョウ ニ オヨボス FR-4 ノ セキソウ コウゾウ ノ フキンシツセイ ノ エイキョウ(ダイ1ポウ)レイネツ サイクル シケン ト ユウゲン ヨウソホウ カイセキ オ モチイタ ジュミョウ ノ ヘンドウ ヨウイン ノ ケントウ
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説明
PWBにおけるIVHの熱疲労寿命に及ぼすFR-4の積層構造の不均質性の影響を検討するために，熱疲労寿命に影響する要因を検討する実用的な手法を示し，その手法に基づいて冷熱サイクル試験と有限要素法解析を用いて熱疲労寿命の変動要因を検討した。解析モデルにPWBの平織りのガラスクロスを詳細にモデル化したものを使用することで，解析結果が試験結果のき裂発生状況や故障順序と一致することを確認した。その結果，積層されたガラスクロスの積層状態の違いと，ある積層状態のガラスクロスに対するIVHの形成位置の違いが，IVHの熱疲労寿命に影響していることを示唆した。これらの違いはIVHの熱疲労寿命の変動要因であり，その要因が組み合わさってIVHの熱疲労寿命に影響すると考えられる。
収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学会誌
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エレクトロニクス実装学会誌 16 (2), 106-118, 2013
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679537681280
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- NII論文ID
- 10031139187
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- NII書誌ID
- AA11231565
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3sXhtVaqtb%2FO
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- ISSN
- 1884121X
- 13439677
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- NDL書誌ID
- 024319377
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可