有機分子線エピタキシー (OMBE) 法とその構造評価

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タイトル別名
  • Organic molecular beam epitaxy: fabrication and characterization

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説明

今まで無機物質系の薄膜成長に用いられてきた超高真空下における分子線エピタキシー (MBE) 法を有機物質系に適用する有機分子線エピタキシー (OMBE) 法の検討を行った.反射高速電子線回折 (RHEED) と走査型トンネル顕微鏡 (STM) を用いて, OMBE法によって作成された大きな格子非整合を有する有機分子層・無機基板間のエピタキシャル成長性の評価;を行った.また,薄膜成長中におけるRHEEDの回折強度の検討から,有機分子の薄膜成長においても無機物質系と同様な1分子層ことの層状成長の可能性を示唆する振動現象が確認された.

収録刊行物

  • 応用物理

    応用物理 60 (12), 1243-1246, 1991

    公益社団法人 応用物理学会

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282679573747584
  • NII論文ID
    130003592767
  • DOI
    10.11470/oubutsu1932.60.1243
  • COI
    1:CAS:528:DyaK38Xps1Sjtg%3D%3D
  • ISSN
    21882290
    03698009
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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