シンクロトロン放射光によるX線回折画像計測技術の進歩

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書誌事項

タイトル別名
  • Recent progress in synchrotron X-ray diffraction topo-imaging

説明

X線による物質可視化技衛の進歩の中で,放射光の利用によって,X線画像の画素情報;を与えるX線と物質との相互作用として回折,屈折,異常透過,位相,偏光など広範な現象を扱えるようになった.このような物質の不珂視1青報の町視化という概念の中で「放射光回折トポグラフィー」をとらえて,その意義を深めた.本稿では放射光トポグラフィーに関して,この数年,(財)高輝度光科学研究センター(SPring-8)でなされた新しい研究を取り上げた.

収録刊行物

  • 応用物理

    応用物理 71 (11), 1386-1390, 2002

    公益社団法人 応用物理学会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282679574083840
  • NII論文ID
    130003431071
  • DOI
    10.11470/oubutsu1932.71.1386
  • COI
    1:CAS:528:DC%2BD38XoslOhs7Y%3D
  • ISSN
    21882290
    03698009
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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