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- 品田 博之
- (株)日立製作所中央研究所第4部
書誌事項
- タイトル別名
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- Dynamic Micro-Magnetic Field Measurement
- ミクロ磁界の高速変化を可視化する--ストロボ電子ビームトモグラフィ
- ミクロ ジカイ ノ コウソク ヘンカ オ カシカスル ストロボ デンシ ビーム
- ストロボ電子ビームトモグラフィ
- Stroboscopic Electron Beam Tomography
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説明
記事分類: 電気工学--電気測定
収録刊行物
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- 電気学会論文誌． Ａ
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電気学会論文誌． Ａ 112 (2), 87-90, 1992
一般社団法人 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679576305024
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- NII論文ID
- 130006839347
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- NII書誌ID
- AN10136312
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- ISSN
- 13475533
- 03854205
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- NDL書誌ID
- 3756377
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
