金属や低屈折率誘電体薄膜の光学定数測定のための全反射減衰法における無反射条件の考察

書誌事項

タイトル別名
  • A Study of Zero-Reflection Conditions in the ATR to Measure Optical Constants of Metal or Low Refractive Index Dielectric Films
  • キンゾク ヤ テイ クッセツリツ ユウデンタイ ハクマク ノ コウガク テイス

この論文をさがす

説明

記事分類: 物理学--光

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ