書誌事項
- タイトル別名
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- Laser Feedback Microscopy Controlling the Laser Oscillation of Semiconductor Laser by Reentered Light.
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説明
A laser feedback microscope that uses a semiconductor laser for both a light source and a detector is described. A method for enhancing the depth discrimination of a confocal microscope is also described, in which a semiconductor laser is driven by the current below the threshold. Experimental results are shown to verify the effectiveness of the proposed microscope.
収録刊行物
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- レーザー研究
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レーザー研究 24 (10), 1084-1090, 1996
一般社団法人 レーザー学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679622104448
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- NII論文ID
- 130003702159
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- ISSN
- 13496603
- 03870200
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可