書誌事項
- タイトル別名
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- Micro-scale Thermal Effusivity/Conductivity of Silicon Carbide Ceramics
- タンカ ケイソ セラミックス ノ ビショウ リョウイキ ノ ネツ シントウリツ ネツ デンドウリツ
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説明
サーモリフレクタンス法及び周期加熱法を備えた熱物性顕微鏡により,炭化ケイ素(SiC)の焼結体(多結晶)及び単結晶の微小領域における熱物性を定量的に評価した.その結果,焼結体の面分析による熱浸透率の平均値は,レーザフラッシュ法の結果とよい一致を示した.微小領域における熱物性の均一性は単結晶では高いが,焼結体では非常に低かった.焼結体において著しく低い熱浸透率を示す部分は,気孔部と一致した.それ以外の部分においても,21.0-25.8 kJ·s-0.5m-2K-1と様々な値を示し,約5 kJ·s-0.5m-2K-1の差が認められることが明らかになった.
収録刊行物
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- 熱物性
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熱物性 22 (3), 172-176, 2008
日本熱物性学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679641651840
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- NII論文ID
- 10021064639
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- NII書誌ID
- AN10064743
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD1cXhtVGgtbfF
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- ISSN
- 1881414X
- 0913946X
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- NDL書誌ID
- 9628718
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可