Impact of the AlN Nucleation Layer on GaN grown on Silicon Substrate by MOCVD for Power—devices
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- MATSUMOTO Koh
- 大陽日酸(株)
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- YAMAOKA Yuya
- 大陽日酸(株)
Bibliographic Information
- Other Title
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- パワーデバイス用GaN on Si結晶
- パワーデバイス用GaN on Si結晶 : AlN核形成層の重要性
- パワーデバイスヨウ GaN on Si ケッショウ : AlNカク ケイセイソウ ノ ジュウヨウセイ
- —AlN核形成層の重要性—
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Abstract
<p>1.はじめに</p><p>近年,Siウェーハを用いたGaN on Siパワーデバイスの開発が活発である(1)。</p><p>図1にAl GaN/GaN HEMT on Siエピタキシャルウェーハ(以下,HEMT on Siエピウェーハ)の構造を示す(2)。GaとSiのメルトバックエッチング(3)を防止するため初期</p>
Journal
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- The Journal of The Institute of Electrical Engineers of Japan
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The Journal of The Institute of Electrical Engineers of Japan 137 (10), 681-684, 2017
The Institute of Electrical Engineers of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679972989824
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- NII Article ID
- 130006109853
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- NII Book ID
- AN10432927
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- ISSN
- 18814190
- 13405551
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- NDL BIB ID
- 028615579
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed