ＩＣの信頼性設計とその評価

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390282680042616704

• NII論文ID

  110003699092

• NII書誌ID

  AN00151466

• DOI

  10.3169/itej1978.34.744

• ISSN

  18849652

  03866831

• NDL書誌ID

  2190853

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/2190853

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I2190853

  http://www.jstage.jst.go.jp/article/itej1978/34/8/34_8_744/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles