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Surface Diffusion of Palladium and Its Prevention over Supported Palladium Catalyst
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- FURUOYA Itsuo
- 武田薬品工業株式会社工業技術研究所
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- SHIRASAKI Takayasu
- 東京工業大学資源化学研究所
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- ECHIGOYA Etsuro
- 東京工業大学工学部化学工学科
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- MORIKAWA Kiyoshi
- 日本揮発油株式会社
Bibliographic Information
- Other Title
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- 担体付きパラジウム触媒におけるパラジウムの二次元拡散とその防止策
- タンタイ ツキ パラジウム ショクバイ ニ オケル パラジウム ノ 2ジゲン カクサン ト ソノ ボウシサク
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Description
著者らの既往の研究によれば担体付き金属触媒はつぎの2通りの機構で, シンタリングによる活性低下をきたす。すなわち一つは担持金属結晶の成長による粒子径増大に基づく量的シンタリングであり, 他の一つは結晶の格子不整減少による活性強度低下に基づく質的シンタリングである。カチオン交換法でつくったシリカ・アルミナ担持パラジウム触媒を試料に選び, 量的シンタリングが起こるさい金属が担体表面を二次元拡散する様子をX線回折, 電子顕微鏡などの研究手段により検討した。またパラジウムの担体表面の二次元拡散を防ぐような助触媒を探索して, 量的シンタリング防止策を検討し, つぎの結果が得られた。<BR>(1) 担体表面拡散過程におけるパラジウムはパラジウムカチオン, たとえば Pd2+ の状態になっていると考えられ, 逓送現象によるパラジウム結晶の成長は酸素の化学吸着にもとづき, PdO の生成すなわち Pd2+ の生成により促進されると推定された。<BR>(2) Al3+ や Th4+ などの 3~4 価の金属カチナンを担体付きパラジウム触媒に添加すると上記のパラジウムの二次元拡散にもとづく量的シンタリングが防止された。しかし, 1価の Li+ や2価の Ba2+ などを触媒に添加してもシンタリングは防止されなかった。
Journal
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- The Journal of the Society of Chemical Industry, Japan
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The Journal of the Society of Chemical Industry, Japan 72 (7), 1431-1435, 1969
The Chemical Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680098755456
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- NII Article ID
- 130004278739
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- NII Book ID
- AN00080721
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- ISSN
- 21850860
- 00232734
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- NDL BIB ID
- 8199419
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL Search
- Crossref
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed