書誌事項
- タイトル別名
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- Cyclotron resonance as a tool of semiconductor characterization. State of the art.
- サイクロトロン キョウメイ リヨウ ノ シン テンカイ ハンドウタイ ケッショ
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抄録
半導体のバンド構造に関する情報を得ようとする初期の目的から, サイクロトロン共鳴は建設的に大きく逸脱中. 本来鋭くあってほしい共鳴線-その線幅の広がりから, 輸送現象解明への新たな展望が生れた. 局在中心による電子散乱, とりわけ量子極限での散乱問題など, 提供できる話題に事欠かない. 2次元-3次元電子系の interplay もほの見えた. ポピュラーながら, とかく保守的傾向の強い発光測定も, サイクロトロン共鳴の味付で, 新しい道を歩み始めるかもしれない.
収録刊行物
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- 日本物理学会誌
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日本物理学会誌 45 (8), 557-563, 1990
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680380675200
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- NII論文ID
- 110002076580
- 130004180364
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- NII書誌ID
- AN00196952
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- ISSN
- 24238872
- 00290181
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- NDL書誌ID
- 3675862
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可