Development of Electron Beam Ion Trap(EBIT) for Studies with Highly Charged Ions.
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- Other Title
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- 電子ビームイオントラップ(EBIT)の開発と多価イオンの研究
- デンシ ビーム イオン トラップ EBIT ノ カイハツ ト タカ イオン ノ
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Journal
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- Butsuri
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Butsuri 52 (12), 919-923, 1997
The Physical Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680380701440
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- NII Article ID
- 110002069045
- 130004180779
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- NII Book ID
- AN00196952
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- ISSN
- 24238872
- 00290181
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- NDL BIB ID
- 4352159
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
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