Defect Formation Induced by Electronic Excitation in Ionic Crystals

DOI Web Site

Bibliographic Information

Other Title
  • イオン結晶における電子励起による欠陥生成
  • イオン ケッショウ ニ オケル デンシ レイキ ニ ヨル ケッカン セイセイ

Search this article

Description

アルカリハライドで電子系を励起すると, 空格子点 (F中心) と格子間原子 (H中心) の対が生じることは古くから知られており, その機構についての詳細な研究がなされている. 電子系の励起エネルギーが, どのようにして欠陥生成のエネルギーに変換するかが興味の中心で, 数多くの機構が提案されている. 最近半導体における電子励起や再結合により誘起される欠陥生成や移動など同様の現象が多く見付けられ, 一般に電子励起誘起欠陥過程に対する興味が高まりつつある. 本稿では, アルカリハライドにおけるこの問題の進歩を歴史的に眺め, この問題のより一般的な見地からの理解の一助としようというものである.

Journal

  • Butsuri

    Butsuri 39 (9), 650-657, 1984

    The Physical Society of Japan

Details 詳細情報について

Report a problem

Back to top