書誌事項
- タイトル別名
-
- A Study on the Application of Confirmation Sample Control Charts to Very-High-Yield Processes
- CSC カンリズ ノ コウヒンシツ コウテイ エ ノ テキヨウ ニ カンスル イチ コウサツ
この論文をさがす
抄録
最近, SteinerによりShewhart型管理図に対して品質特性の工程安定状態からの変化が小さい場合の検出力向上を目的としたCSC(Confirmation Sample Control)管理図が提案されている.これとは別に、今日の製造工程にみられる高品質工程で不良率を管理するのに, Xieらにより提案されたCCC(Cumulalive Count of Conforming)-r管理図およびCCC管理図がある, しかし, CCC-r管理図およびCCC管理図は不良率の工程安定状態からの変化が小さい場合の検出特性が劣る.また, 高品質工程で不良率を管理する場合, このような不良率の工程安定状態からの変化が小さい場合の検出特性を高めることは必要である.そこで, 本論文では, CSC管理図の設計法を高品質工程で不良率の管理に適するとされるCCC-γ管理図に適用し, 不良率の工程安定状態からの変化が小さい場合でも、さらにその検出特性に優れる、簡易な高品質工程用管理図の代替管理図を提案する.併せて、提案管理図の有効性をCCC-r管理図とのANOS(Avenge Number of Observalions to Signal)の比較により検証する.
収録刊行物
-
- 日本経営工学会論文誌
-
日本経営工学会論文誌 52 (1), 11-19, 2001
公益社団法人 日本経営工学会
- Tweet
キーワード
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390282680482906880
-
- NII論文ID
- 110003945426
-
- NII書誌ID
- AN10561806
-
- ISSN
- 21879079
- 13422618
-
- NDL書誌ID
- 5751478
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可