書誌事項
- タイトル別名
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- The Improvement of Control Charts for High-Yield Processes
- コウヒンシツ コウテイヨウ カンリズ ノ カイリョウ
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説明
最近, 高品質工程で不良率の変化を管理するのに, 不良品r個が観測されるまでの累積検査品数を品質特性とするCCC(Cumulative Count of Conforming)管理図(r=1の場合)およびCCC-r管理図(r>1の場合)のような高品質工程用管理図が提案されている.これらの管理図はともに工程の異常を示す不良率の大きい方向への変化に対する検出力向上を目的としている.ところで, 実際の製造工程での工程品質に対する管理・改善行動の必要な姿勢の基本は, 常に不良率のゼロ方向への移行を希求することである.この点に鑑み, 本論文では高品質工程でさらなる品質改善を試みる際, その改善効果を調べるために工程の改善を示す不良率の小さい方向への移行に対する検出力向上を目的として, 高品質工程用管理図の改良について考究する.併せて, 改良管理図の有効性をシミュレーションによる従来のCCC管理図およびCCC-r管理図とのANOS(Average Number of Observations to Signal)の比較により確かめる.
収録刊行物
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- 日本経営工学会論文誌
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日本経営工学会論文誌 51 (3), 153-158, 2000
公益社団法人 日本経営工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680483259776
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- NII論文ID
- 110003945476
- 10010868548
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- NII書誌ID
- AN10561806
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- ISSN
- 21879079
- 13422618
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- NDL書誌ID
- 5496094
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可