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Consideration of Solder Joints Mechanism for Electroless Ni-P Plating Film
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- Kanetaka Yoshifumi
- NEC Corporation
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- Ishizuka Naomi
- NEC Corporation
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- Suzuki Toshiya
- NEC TOPPAN CIRCUIT SOLUTIONS,INC.
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- Tamabayashi Shinichi
- NEC TOPPAN CIRCUIT SOLUTIONS,INC.
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- Murakami Tomoo
- NEC Corporation
Bibliographic Information
- Other Title
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- 無電解Ni/Auめっき膜はんだ接合メカニズムの考察
Description
近年の鉛フリーはんだ化に伴い、プリント配線板の表面処理として無電解Ni/Auめっきの採用が増加しているが、鉛フリーはんだとの接合性については、まだ多くの課題があり、技術確立が求められている。本研究では、プリント基板の表面処理に置換金及び置換金+還元金の金めっき処理を施し、Sn3.0Ag0.5CuおよびSn3.5Agのはんだボールを実装したサンプルにて、シェアおよびプル強度試験を行った。その結果、Sn3.5Agサンプルでは、めっきの種類によって接合強度のワイブル分布および破壊モードに差異が見受けられた。また破断面SEM観察より、接合界面で花弁状の化合物の集合体が確認された。さらにこの近傍にてTEM分析を実施し、めっきの種類によって、化合物相の様相が異なることがわかった。本報告では、無電解Ni/Auめっき膜はんだ接合性について、以上より得られた結果を考察し、報告する。
Journal
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- Proceedings of JIEP Annual Meeting
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Proceedings of JIEP Annual Meeting 20 (0), 75-77, 2006
The Japan Institute of Electronics Packaging
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680532374272
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- NII Article ID
- 130004589031
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed