マイクロストリップ線路の伝搬定数の計算および実験
書誌事項
- タイトル別名
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- Calculations and measurements of propagation constant of a microstrip line
説明
銅張りガラスクロスセラミックPTFE積層基板AR-1000に関して、平面および垂直方向の複素比誘電率および両面に張られた銅箔の表面および界面の比導電率を種々の共振器法により測定した。これらの測定値を用いてAR-1000上に構成されるマイクロ波伝送線路の伝搬定数すなわち減衰定数αおよびβを1-20GHzにわたり計算し、実験結果と比較した。特に、αを誘電体損αdと導体損αcに分離して評価し、損失要因の内訳に対する評価を行った。
収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
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エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 24 (0), 122-123, 2010
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680532506624
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- NII論文ID
- 130005469564
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
