Impact of the Relaxation Time on Heat Generation in Electro-Thermal Analysis

DOI

Bibliographic Information

Other Title
  • 熱・電気連成解析における緩和時間が発熱に与える影響

Abstract

半導体デバイスの熱問題が深刻化している現在、Si MOSFETの適切な熱設計が求められており、熱・電気連成解析はその有力候補である。 熱・電気連成解析は、ボルツマン方程式の散乱項を緩和時間で近似することによって解かれ、緩和時間は専ら定数などが用いられる。しかし、緩和時間は発熱現象に密接に結びついており、より正確な緩和時間がより正確な発熱予測を可能とする。今回、我々はモンテカルロシミュレーションにより、運動量緩和時間及びエネルギー緩和時間を求め、それらの結果を熱・電気連成解析にフィードバックすることによって、従来の熱・電気連成解析との比較を行った。

Journal

Details 詳細情報について

  • CRID
    1390282680563013376
  • NII Article ID
    130005018903
  • DOI
    10.11368/nhts.2009.0.315.0
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

Report a problem

Back to top