パルスレーザー蒸着による高結晶性酸化錫薄膜の合成

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タイトル別名
  • High crystallinity tin oxide films deposited by pulsed laser deposition method

抄録

パルスレーザー蒸着法によって酸化錫薄膜を合成した。特に、高結晶性、高移動度の薄膜の合成条件を明らかにするため、基板温度、製膜中の酸素圧力、および基板温度をパラメータとして合成条件を検討した。 基板として、表面にステップテラス構造を有するルチル型の二酸化チタン単結晶基板を用いた。 得られた薄膜をAFM、X線回折、ホール測定によって評価した。製膜中の酸素分圧と基板温度によって得られた膜の電子濃度、ホール移動度が共に変化し、それぞれの圧力に対して、特定の製膜温度で移動度が極大を示す様子が観測された。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680593940864
  • NII論文ID
    130006975159
  • DOI
    10.14853/pcersj.2007f.0.400.0
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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