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Role of grain boundary for insulation resistance degradation in Ni-MLCC
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- Matsubara Kiyoshi
- Kyocera Corporation
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- Yasukawa Katsumasa
- Kyocera Corporation
Bibliographic Information
- Other Title
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- Ni-MLCCの絶縁劣化現象に対する粒界の役割について
Description
積層セラミックコンデンサ(MLCC)では高電界かつ高温での絶縁劣化が課題である。MLCCの絶縁劣化現象を理解するために電気化学インピーダンス法を用いた。等価回路モデルを用いて、高温負荷試験(HALT)前後のインピーダンスデータを解析した。各成分の等価回路定数はMLCCの微構造に関連付けされた。HALT前後における評価の結果、粒界抵抗値の劣化率がMLCCの絶縁劣化現象に対して主たる要因であることが分かった。また粒子への添加物分散性の事例では、高い添加物分散が粒界での均一性を高め、寿命増加に寄与した。インピーダンス評価では粒界抵抗値の減少率が抑制されていた。
Journal
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- Preprints of Annual Meeting of The Ceramic Society of Japan<br> Preprints of Fall Meeting of The Ceramic Society of Japan
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Preprints of Annual Meeting of The Ceramic Society of Japan<br> Preprints of Fall Meeting of The Ceramic Society of Japan 2008S (0), 2A05-2A05, 2008
The Ceramic Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680595592704
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- NII Article ID
- 130006977653
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed