Caribration of Mott polarization analyzer for development of high-brightness spin-polarized electron source

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Other Title
  • 高輝度スピン偏極電子源開発に向けたMott散乱検出装置の校正

Description

電子がもつスピンを応用するスピントロニクスの分野が、近年注目されている。我々は、ナノ領域でのスピン物性評価に供することを目的に、高輝度スピン偏極電子源の開発を進めている。開発の第一段階として、電子線のスピン偏極度測定のため、電界放出顕微鏡(FEM)に小型の阻止電位型Mott散乱スピン検出器を搭載した複合装置(Spin-FEM)を作製した。本講演ではSpin-FEMの動作特性について報告する。

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390282680622113792
  • NII Article ID
    130004673507
  • DOI
    10.14886/sssj.26.0.242.0
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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