Atomic-scale analysis of 4H-SiC(0001) surfaces by STM/LEED and XPS
-
- Ishida Takeshi
- Osaka University
-
- Arima Kenta
- Osaka University
-
- Endo Katsuyoshi
- Osaka University
-
- Mori Yuzo
- Osaka University
Bibliographic Information
- Other Title
-
- STM/LEED、XPSによる4H-SiC(0001)
- プロセス表面の原子構造解析
Abstract
ワイドギャップ半導体として注目されているSiCについて、湿式洗浄およびEEM加工を行い、その表面の原子構造を解析した。LEED観察から、SiC表面はウエハ作製時におけるダメージ層を有していたが、SPM+HF洗浄によりその層を除去し、結晶性を有する表面層を露出させることがわかった。また、STM観察により、六角形を形成する原子配列が見られたが、洗浄後と加工後では、原子構造は異なっていることがわかった。
Journal
-
- Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
-
Proceedings of JSPE Semestrial Meeting 2004A (0), 385-385, 2004
The Japan Society for Precision Engineering
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1390282680625541760
-
- NII Article ID
- 130004655662
-
- Data Source
-
- JaLC
- CiNii Articles
-
- Abstract License Flag
- Disallowed