レーザトラッピングプローブを用いたナノ3次元形状計測に関する研究(第5報)

DOI
  • 小林 光俊
    大阪大学 工学研究科 機械工学専攻 高谷研究室
  • 道畑 正岐
    大阪大学 工学研究科 機械工学専攻 高谷研究室
  • 林 照剛
    大阪大学 工学研究科 機械工学専攻 高谷研究室
  • 高谷 裕浩
    大阪大学 工学研究科 機械工学専攻 高谷研究室

書誌事項

タイトル別名
  • 被測定物形状に対するセンシング特性

抄録

近年、マイクロ部品の3次元形状をnmオーダー精度で計測可能な超高精度3次元座標計測器の開発が求められている。そのような計測器を実現するためのプローブ技術として、レーザトラッピングプローブを提案している。本報では、プローブに被測定物の形状に依らないセンシング特性を持たせることを目的とする。その検証に適した凹凸構造をもつSiバルク材に対してプローブ球を様々な方向から近づけ、その位置検出特性を確認した。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680629869056
  • NII論文ID
    130005030215
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2010a.0.523.0
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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