パッシブ型THz近接場顕微鏡による誘電体エバネッセント波の検出と評価
抄録
我々が開発したパッシブ型THz近接場顕微鏡は,一切の外部光源を使わず,物質表面に局在する熱励起エバネッセント波を空間分解能20 nmで検出可能である.本研究では,AlN, GaNなど検出波長近傍に表面フォノン共鳴をもつ誘電体のエバネッセント波の観測を行っている.本報では,異なる検出波長における誘電体エバネッセント波をパッシブ検出し,得られた信号の評価・解析を行ったので報告する.
収録刊行物
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- 精密工学会学術講演会講演論文集
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精密工学会学術講演会講演論文集 2015A (0), 397-398, 2015
公益社団法人 精密工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680634104832
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- NII論文ID
- 130005486742
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可